通过软件程序控制，让 X 射线发生路产生适合的 X 射线去激发测试薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射线激发后变为不稳定态，高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收，因每个元素都有自已特定的能量特征线，通过探测器的识别，计算机软件的计算，即可准确识别该元素，并计算出含量。 仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达到 125eV, 能分辨 Al( 铝 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。

1，各种薄膜 、淋膜 、离型膜等硅油涂布量的测定

2，各种薄膜生产过程中Si/Al元素等比量的测定

3，电子产品保护膜 硅油残余量的测定

4，电子产品硫化物的残留量的测定

1，多点检测结果精准

2，自建曲线功能开放

3，中文界面国内研发

4，一键操作自动完成

5，算法先进快速准确

6，多种格式快速打印

1，测试采用X 射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材

2，光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发

3，测试下限好，可准确测量 0.01g/m2  的涂硅量

4，采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确

5，快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性

6，配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然

7，设备集成多个 usb 接口 , 数据和通讯传输满足多种要求

8,  空气光路内部环境得到显著优化，大气环境一样可以直接测试

9，一键测试 / 操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确